屬性

自造者成果

技術或專利歸屬權

矽格股份有限公司

技術或專利說明摘要

本創作係提供一種射頻參數量測裝置,包含一第一、第二開關組與一雙向偶合器組,雙向偶合器組連接一待測物與第一、第二開關組。第一開關組連接一向量訊號產生器(VSA),其係根據第一開關組之開關狀態,透過第一開關組,向量訊號產生器產生一向量訊號經雙向偶合器組至待測物中。第二開關組連接一向量訊號分析器,其係根據第二開關組之開關狀態,透過第二開關組從雙向偶合器組接收待測物之向量訊號,以藉此分析得到S 參數量測值。本創作不但可以量測S參數,更可以量測其他射頻測試項目,具有高量測彈性。

產業別

半導體

技術或專利應用範圍

半導體IC測試

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中華大學電機系田慶誠 tien@chu.edu.tw 0935978621

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